葉面積指數測定儀

葉面積指數測定儀可測算植物冠層的太陽(yáng)直射光透過(guò)率、天空散射光透過(guò)率、冠層的消光系數，葉面積指數和葉片平均傾角等，可用于農作物、果樹(shù)、森林內冠層受光狀況的測量和分析可用于不同植物群體結構的比較;可對農田作物群體生長(cháng)過(guò)程進(jìn)行動(dòng)態(tài)監測適用于生態(tài)學(xué)野外植物群體動(dòng)態(tài)監測的研究與教學(xué);

原理與方法

葉面積指數測定儀采用了冠層孔隙率與冠層結構相關(guān)的原理。它是根據光線(xiàn)穿過(guò)介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過(guò)冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下， 植物冠層圖象分析儀采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類(lèi)方法中準確和省力、省時(shí)、快捷方便的方法。

葉面積指數的多少決定了植物的光合作用，在未來(lái)20年里，農作物產(chǎn)量需要大幅增加，才能滿(mǎn)足日益增長(cháng)的人口的糧食需要。找到如何提高作物產(chǎn)量的策略，顯然是非常必要的。一些科學(xué)家剛剛開(kāi)發(fā)出了一個(gè)準確的動(dòng)態(tài)模型，可以預測光合作用的變化將在多大程度上提高小麥和高粱作物的產(chǎn)量。

測量參數

葉面積指數

葉片平均傾角

散射輻射透過(guò)率

不同太陽(yáng)高度角下的直射輻射透過(guò)率

不同太陽(yáng)高度角下的消光系數

葉面積密度的方位分布

功能特點(diǎn)

非破壞性地測定冠層結構

可以測量冠層內外的光合有效輻射(PAR)

手持式萬(wàn)向接頭自動(dòng)水平調整探頭，無(wú)需三角架

隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點(diǎn)取樣，即時(shí)決定圖像的取舍

由外接鋰電池組提供電源便于觀(guān)測和長(cháng)時(shí)間測量，尤其適合完成野外繁重的觀(guān)測任務(wù)

鏡頭角度：150°(或用戶(hù)自選180°鏡頭。除用戶(hù)有特殊需要，180°魚(yú)眼鏡頭經(jīng)常不適合

孔隙測量原理與方法所假設的前提條件，用于冠層結構分析是不適宜和不經(jīng)濟的)

分辨率：768×494pix

測量范圍：天頂角由0°～75°

PAR感應范圍：感應光譜400nm～ 700nm  測量范圍0～2000μmol/㎡•S

分析軟件：植物冠層分析系統

顯示和內存：決定于筆記本電腦的選擇。

電 源：鋰電池組

傳輸接口：USB

工作溫度：0～55℃